Análisis multielemental e isotópica en alta resolución
Element Series. Separación del analito y las interferencias.
HR-ICP-MS de doble focalización para separar físicamente interferencias espectrales, medir elementos mayoritarios a ultratrazos y obtener razones isotópicas en matrices desafiantes, por solución o ablación láser.
Element 2 HR-ICP-MS · imagen oficial Thermo Fisher Scientific
Una familia de HR-ICP-MS. Tres modos de resolución.
R 10.000alta resolución nominal
>10¹² cpsrango dinámico en el Element XR
sub-pptlímites para la mayoría de los elementos
Visión general
Separación de interferencias en matrices complejas.
El Element Series utiliza un analizador de sector magnético de doble focalización y rendijas seleccionables para separar físicamente iones del analito y especies interferentes. Esto reduce la dependencia de gases reactivos y permite trabajar con un método multielemental incluso en matrices complejas.
Element 2 y Element XR comparten la misma propuesta de alta resolución, sensibilidad y estabilidad. XR añade detector Faraday y extiende el rango dinámico en tres órdenes de magnitud, siendo especialmente valioso cuando señales mayoritarias y ultratrazos necesitan ser medidos en el mismo flujo.
01Concentración multielemental de niveles mayoritarios a ultratrazos.
02Razones isotópicas precisas, incluso entre isótopos de abundancias muy diferentes.
03Signos de ablación láser, cromatografía y partículas individuales.
05Analitos afectados por óxidos, especies de argón, nitruros o iones doblemente cargados.
Preferencias del sistema
¿ Element 2 o Element XR?
Los dos modelos usan HR-ICP-MS de sector magnético. La elección depende principalmente del rango dinámico y del sistema de detección requerido por la aplicación.
01Detección doble
Element 2 HR-ICP-MS
Solución robusta para análisis químico, semiconductores, investigación y control de producción con alta sensibilidad y resolución física de interferencias.
Más adecuado paraMétodos multielementales e isotópicos cuyas concentraciones se encuentran dentro de un rango dinámico superior a 10⁹ cps.
Detector SEM con operación en dos modos.
Rango lineal de menos de 0,2 cps a más de 109 cps.
Tres resoluciones fijas con cambio en menos de un segundo.
Alta sensibilidad en plasma húmedo y seco con Jet Interface.
02SEM + Faraday
Element XR HR-ICP-MS
Añade detección Faraday y amplía el rango dinámico para manejar señales muy intensas, grandes razones isotópicas y muestras de composición poco conocida.
Más adecuado paraFull cribado, ablación láser, matrices con gran variación de concentración y razones entre isótopos mayoritarios y minoritarios.
Rango dinámico extendido a más de 1012 cps.
Tres órdenes de magnitud adicionales frente al Element 2.
Filtro adicional para una mejor sensibilidad de abundancia.
Intercambio automático para Faraday cuando la señal excede el rango de SEM.
Tecnología
Alta resolución con sector magnético.
La familia combina separación física en el sector magnético, alta sensibilidad y amplia franja de detección para soluciones y señales transientes.
Element XR presentado en el catálogo oficial de la familia Element Series.
01
Tres modos de resolución
LR R=300 maximiza la sensibilidad; MR R=4.000 resuelve la mayoría de las interferencias; HR R=10.000 separa desafíos espectrales en matrices complejas.
02
Separación sin química reactiva
El analito es separado físicamente de interferentes como óxidos, especies de argón, nitruros y iones de doble carga, preservando un flujo multielemental directo.
03
Jet Interface integrada
Cones y bombeo de alta capacidad aumentan la transmisión de iones en plasma húmedo y seco, favoreciendo límites de detección y señales transientes.
04
Detección según la intensidad
El Element 2 usa SEM en modo doble. El Element XR combina SEM y Faraday para cubrir más de doce órdenes de magnitud.
05
Estabilidad por razones isotópicas
Estabilidad de masa y señal sustentan mediciones isotópicas precisas y series largas, tanto en solución como en análisis in situ.
Aplicaciones
Ultratrazos, isótopos y materiales complejos.
La capacidad de cambiar de resolución dentro del mismo método amplía el uso de la plataforma en investigación y monitoreo de producción.
01
Semiconductores y químicos de alta pureza
Impurezas en agua ultrapura, ácidos, disolventes, silanos y materiales de proceso, con límites subppt para la mayoría de los elementos.
02
Laboratorios y control de producción
Métodos multielementales robustos, con menor necesidad de preparación, dilución y múltiples rutas para diferentes interferencias.
03
Geociencias y geocronología
Elementos traza en rocas y minerales, procedencia, paleoclima y datación U-Pb in situ en circón, rutilo, granada y carbonatos.
04
Ambiente y oceanografía
Metales traza y sus isótopos en aguas, hielo, suelos y sedimentos, incluso en matrices salinas complejas como agua del mar.
05
Ciencias nucleares
Razones de uranio y otros sistemas con fuerte diferencia de abundancia, además de cuantificación ultratrazo en matrices relevantes.
06
Nanopartículas y materiales
Detección de partículas individuales, distribución de tamaño y caracterización multielemental de materiales avanzados.
Imágenes de aplicaciones y equipos: materiales oficiales Thermo Fisher Scientific.
Introducción y flujo analítico
Solución, láser y señales transitorias.
La configuración de introducción es elegida como matriz, concentración, resolución espacial y necesidad de especiación.
01
Soluciones acuosas
Aguas, digestos y ácidos con métodos multielementales en diferentes resoluciones.
02
Solventes y químicos puros
Introducción de disolventes y reactivos de alta pureza con control de blanco y sensibilidad.
03
Ablación láser
Muestreo directo de sólidos para Elementos traza, mapeo y datación U-Pb in situ.
04
Plasma húmedo o seco
Uso de introducción convencional o desolvatante conforme sensibilidad e interferencias.
05
Cromatografía
Acoplamiento a HPLC, GC, CE o FFF para señales transientes y métodos de especiación.
06
Partícula individual
Adquisición rápida de eventos transientes para caracterización de nanopartículas.
Resumen técnico
Especificaciones técnicas.
Los valores abajo sintetizan la familia. La configuración definitiva depende de aplicación y de los opcionales seleccionados.
Analizador
Sector magnético de doble focalización HR-ICP-MS
Resolución baja
R = 300
Resolución media
R = 4.000
Resolución alta
R = 10.000
Intercambio de resolución
Menos de 1 segundo entre modos fijos
Rango dinámico — Element 2
<0,2 cps a >10⁹ cps
Rango dinámico — Element XR
<0,2 cps a >10¹² cps
Detección
SIN doble; en XR, SIN + Faraday
Introducción
Solución, ablación láser y periféricos para señales transientes
Biblioteca técnica
Catálogos oficiales.
Los documentos están disponibles exclusivamente para descargar.
Información técnica sobre la selección y configuración de la plataforma.
01¿Cuál es la diferencia entre Element 2 y Element XR?+
Los dos ofrecen HR-ICP-MS de sector magnético con resoluciones R=300, 4.000 y 10.000. El Element XR añade detector Faraday y extiende el rango dinámico en tres órdenes de magnitud, de más de 10⁹ cps en Element 2 a más de 10¹² cps en Element XR.
02¿El Element Series mide razones isotópicas?+
Sí. La alta sensibilidad, estabilidad y resolución física permiten razones isotópicas precisas. Sin embargo, cuando la prioridad es la máxima precisión por detección simultánea de varios isótopos, una plataforma multicolectora como el Neoma puede ser más adecuada.
03¿Cómo elimina el Element interferencias?+
El analizador de sector magnético utiliza alta resolución de masa para separar físicamente los picos del analito y de los interferentes. Así, muchas interferencias pueden ser resueltas sin depender de gases de colisión o reacción.
04¿El Element puede trabajar con ablación láser?+
Sí. La serie es adecuada a señales transientes de ablación láser y se utiliza en análisis in situ, incluyendo cuantificación elemental y datación U-Pb en minerales.
05¿Cuándo es preferible Element XR al Element 2?+
El XR es preferible cuando el mismo análisis involucra señales muy intensas y ultratrazos, grandes razones isotópicas, matrices de concentración poco conocida o ablación láser con amplia variación de señal.
Siguiente paso
Defina la configuración a partir de la muestra.
Indique la matriz, los sistemas isotópicos, la concentración esperada, la precisión requerida y la forma de introducción. SENS ayuda a configurar el sistema completo.
Publicaciones seleccionadas para profundizar en métodos y aplicaciones. La relevancia no implica que todos los estudios hayan utilizado la configuración comercial ofrecida actualmente.
Geocronologia
Otimização do ELEMENT 2 para U–Th–Pb em zircão
Pullen et al. · Geochemistry, Geophysics, Geosystems · 2018
