SENS Advanced Mass SpectrometryHORIBA
Soluções HORIBA / HORIBA GD-Profiler 2 GD-OES
GD-OES

HORIBA GD-Profiler 2 GD-OES

Análise elementar rápida de sólidos, superfícies, filmes, revestimentos e perfis de profundidade por descarga luminescente pulsada RF.

110–800 nmcobertura espectral
nm a 100+ µmescala de profundidade
Pulsed RFfonte de descarga
Espectrômetro GD-OES HORIBA GD-Profiler 2
Espectrômetro GD-OES HORIBA GD-Profiler 2
Resumo direto

O GD-Profiler 2 combina sputtering controlado e emissão óptica para medir composição da superfície ao volume, incluindo elementos leves e multicamadas.

Entenda a solução

Composição e profundidade na mesma análise

A descarga remove sucessivas camadas do material. O espectrômetro acompanha a intensidade elementar ao longo do tempo e o interferômetro DIP auxilia a conversão em profundidade e taxa de erosão.

Aplicações

Aplicações principais

01

Revestimentos

Galvanização, PVD, CVD, anodização, pintura e tratamentos.

02

Baterias e energia

Eletrodos, interfaces, fotovoltaicos e materiais funcionais.

03

Metalurgia

Descarbonetação, nitretação, cementação, oxidação e controle de ligas.

Diferenciais

Recursos e configurações

01

Elementos leves

Detecção de H, O, C, N e Cl em condições apropriadas.

02

HDD

Detectores de alta faixa dinâmica para sinal superficial e volume.

03

QUANTUM

Software para aquisição, quantificação e perfil de profundidade.

Dados de referência

Visão técnica

Informações resumidas para triagem. A configuração final deve considerar matriz, método, faixa e produtividade.

TécnicaGD-OES pulsado RF
Cobertura110 a 800 nm
AnáliseVolume, superfície e perfil de profundidade
ProfundidadeNanômetros a centenas de micrômetros, conforme amostra
Medição de profundidadeInterferômetro diferencial DIP
Perguntas frequentes

Informações técnicas

GD-OES mede a espessura de camadas?

Sim. O perfil pode relacionar composição e profundidade, desde que o método e a taxa de erosão sejam adequadamente estabelecidos.

É necessário dissolver a amostra?

Não. A análise é direta na superfície sólida compatível com a câmara de descarga.

O método é destrutivo?

É microdestrutivo: a descarga forma uma cratera na área analisada.

Avaliação da aplicação

Informe a matriz, os analitos ou moléculas de interesse, a faixa esperada e o volume de amostras. A SENS especifica a configuração aplicável.