Análise multielementar e isotópica em alta resolução

Element Series.
Separação do analito e das interferências.

HR-ICP-MS de dupla focalização para separar fisicamente interferências espectrais, medir elementos majoritários a ultratraços e obter razões isotópicas em matrizes desafiadoras — por solução ou ablação a laser.

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Thermo Scientific Element 2 HR-ICP-MS — Element 2 HR-ICP-MS · imagem oficial Thermo Fisher Scientific

Uma família de HR-ICP-MS. Três modos de resolução.

R 10.000alta resolução nominal

>10¹² cpsfaixa dinâmica no Element XR

sub-pptlimites para a maioria dos elementos

Visão geral

Separação de interferências em matrizes complexas.

O Element Series usa um analisador de setor magnético de dupla focalização e fendas selecionáveis para separar fisicamente íons do analito e espécies interferentes. Isso reduz a dependência de gases reativos e permite trabalhar com um método multielementar mesmo em matrizes complexas.

Element 2 e Element XR compartilham a mesma proposta de alta resolução, sensibilidade e estabilidade. O XR acrescenta detector Faraday e estende a faixa dinâmica em três ordens de magnitude, sendo especialmente valioso quando sinais majoritários e ultratraços precisam ser medidos no mesmo fluxo.

01Concentração multielementar de níveis majoritários a ultratraços.
02Razões isotópicas precisas, inclusive entre isótopos de abundâncias muito diferentes.
03Sinais transientes de ablação a laser, cromatografia e partículas individuais.
05Analitos afetados por óxidos, argídeos, nitretos ou íons duplamente carregados.

Configuração do sistema

Element 2 ou Element XR?

Os dois modelos usam HR-ICP-MS de setor magnético. A escolha depende principalmente da faixa dinâmica e do sistema de detecção requerido pela aplicação.

01Detecção de modo duplo

Element 2 HR-ICP-MS

Solução robusta para análise química, semicondutores, pesquisa e controle de produção com alta sensibilidade e resolução física de interferências.

Mais indicado paraMétodos multielementares e isotópicos em que a faixa dinâmica de até mais de 10⁹ cps atende às concentrações presentes.

Detector SEM com operação em dois modos.
Faixa linear de menos de 0,2 cps a mais de 10⁹ cps.
Três resoluções fixas com troca em menos de um segundo.
Alta sensibilidade em plasma úmido e seco com Jet Interface.

02SEM + Faraday

Element XR HR-ICP-MS

Acrescenta detecção Faraday e amplia a faixa dinâmica para lidar com sinais muito intensos, grandes razões isotópicas e amostras de composição pouco conhecida.

Mais indicado paraFull screening, ablação a laser, matrizes com grande variação de concentração e razões entre isótopos majoritários e minoritários.

Faixa dinâmica estendida a mais de 10¹² cps.
Três ordens de magnitude adicionais frente ao Element 2.
Filtro adicional para melhor sensibilidade de abundância.
Troca automática para Faraday quando o sinal excede a faixa do SEM.

Tecnologia

Alta resolução com setor magnético.

A família combina separação física no setor magnético, alta sensibilidade e ampla faixa de detecção para soluções e sinais transientes.

Três modos de resolução

LR R=300 maximiza a sensibilidade; MR R=4.000 resolve a maioria das interferências; HR R=10.000 separa desafios espectrais em matrizes complexas.

Separação sem química reativa

O analito é separado fisicamente de interferentes como óxidos, argídeos, nitretos e íons de dupla carga, preservando um fluxo multielementar direto.

Jet Interface integrada

Cones e bombeamento de alta capacidade aumentam a transmissão de íons em plasma úmido e seco, favorecendo limites de detecção e sinais transientes.

Detecção conforme a intensidade

O Element 2 usa SEM em modo duplo. O Element XR combina SEM e Faraday para cobrir mais de doze ordens de magnitude.

Estabilidade para razões isotópicas

Estabilidade de massa e sinal sustentam medições isotópicas precisas e séries longas, tanto em solução quanto em análise in situ.

Aplicações

Ultratraços, isótopos e materiais complexos.

A capacidade de mudar de resolução dentro do mesmo método amplia o uso da plataforma em pesquisa e monitoramento de produção.

Imagem de semicondutores do catálogo oficial Element Series

Semicondutores e químicos de alta pureza

Impurezas em água ultrapura, ácidos, solventes, silanos e materiais de processo, com limites sub-ppt para a maioria dos elementos.

Laboratório de análise elementar em imagem oficial Thermo Fisher Scientific

Laboratórios e controle de produção

Métodos multielementares robustos, com menor necessidade de preparo, diluições e múltiplas rotas para diferentes interferências.

Geociências e geocronologia

Elementos-traço em rochas e minerais, proveniência, paleoclima e datação U-Pb in situ em zircão, rutilo, granada e carbonatos.

Ambiente e oceanografia

Metais-traço e seus isótopos em águas, gelo, solos e sedimentos, inclusive em matrizes salinas complexas como água do mar.

Ciências nucleares

Razões de urânio e outros sistemas com forte diferença de abundância, além de quantificação ultratraço em matrizes relevantes.

Imagem de análise de ultratraços do catálogo oficial Element Series

Nanopartículas e materiais

Detecção de partículas individuais, distribuição de tamanho e caracterização multielementar de materiais avançados.

Imagens de aplicações e equipamentos: materiais oficiais Thermo Fisher Scientific.

Introdução e fluxo analítico

Solução, laser e sinais transientes.

A configuração de introdução é escolhida conforme matriz, concentração, resolução espacial e necessidade de especiação.

Soluções aquosas

Águas, digestos e ácidos com métodos multielementares em diferentes resoluções.

Solventes e químicos puros

Introdução de solventes e reagentes de alta pureza com controle de branco e sensibilidade.

Ablação a laser

Amostragem direta de sólidos para elementos-traço, mapeamento e datação U-Pb in situ.

Plasma úmido ou seco

Uso de introdução convencional ou dessolvatante conforme sensibilidade e interferências.

Cromatografia

Acoplamento a HPLC, GC, CE ou FFF para sinais transientes e métodos de especiação.

Partícula individual

Aquisição rápida de eventos transientes para caracterização de nanopartículas.

Resumo técnico

Especificações técnicas.

Os valores abaixo sintetizam a família. A configuração definitiva depende da aplicação e dos opcionais selecionados.

Analisador: Setor magnético de dupla focalização HR-ICP-MS
Resolução baixa: R = 300
Resolução média: R = 4.000
Resolução alta: R = 10.000
Troca de resolução: Menos de 1 segundo entre modos fixos
Faixa dinâmica — Element 2: <0,2 cps a >10⁹ cps
Faixa dinâmica — Element XR: <0,2 cps a >10¹² cps
Detecção: SEM de modo duplo; no XR, SEM + Faraday
Introdução: Solução, laser ablation e periféricos para sinais transientes

Biblioteca técnica

Catálogos oficiais.

Os documentos são disponibilizados exclusivamente para download.

01Element 2 e Element XR HR-ICP-MSBrochura oficial · PDF · download local

Perguntas frequentes

Dúvidas sobre a plataforma.

Informações técnicas sobre a seleção e a configuração da plataforma.

01Qual é a diferença entre Element 2 e Element XR?

Os dois oferecem HR-ICP-MS de setor magnético com resoluções R=300, 4.000 e 10.000. O Element XR acrescenta detector Faraday e estende a faixa dinâmica em três ordens de magnitude, de mais de 10⁹ cps no Element 2 para mais de 10¹² cps.

02O Element Series mede razões isotópicas?

Sim. A alta sensibilidade, estabilidade e resolução física permitem razões isotópicas precisas. Entretanto, quando a prioridade é a máxima precisão por detecção simultânea de vários isótopos, uma plataforma multicoletora como o Neoma pode ser mais adequada.

03Como o Element remove interferências?

O analisador de setor magnético usa alta resolução de massa para separar fisicamente os picos do analito e dos interferentes. Assim, muitas interferências podem ser resolvidas sem depender de gases de colisão ou reação.

04O Element pode trabalhar com ablação a laser?

Sim. A série é adequada a sinais transientes de ablação a laser e é usada em análises in situ, incluindo quantificação elementar e datação U-Pb em minerais.

05Quando o Element XR é preferível ao Element 2?

O XR é preferível quando a mesma análise envolve sinais muito intensos e ultratraços, grandes razões isotópicas, matrizes de concentração pouco conhecida ou ablação a laser com ampla variação de sinal.

Próximo passo

Defina a configuração a partir da sua amostra.

Informe matriz, sistemas isotópicos, concentração esperada, precisão necessária e forma de introdução. A SENS ajuda a compor o sistema completo.

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