01
Revestimientos
Galvanización, PVD, CVD, anodización, pintura y tratamientos.
Soluciones HORIBA / HORIBA GD-Profiler 2 GD-OES
GD-OES
HORIBA GD-Profiler 2 GD-OES
Análisis elemental rápida de sólidos, superficies, películas, revestimientos y perfiles de profundidad por descarga luminescente pulsada RF.
110–800 nmcobertura espectral
nm a 100+ µmEscala de profundidad
Pulsed RFfuente de descarga
Resumen
GD-Profiler 2 combina sputtering controlado y emisión óptica para medir la composición de la superficie al volumen, incluyendo elementos ligeros y multicapas.
Descripción de la solución
Composición y profundidad en el mismo análisis
La descarga elimina sucesivas capas del material. El espectrómetro acompaña la intensidad elemental a lo largo del tiempo y el interferómetro DIP auxilia la conversión en profundidad y tasa de erosión.
Aplicaciones
Aplicaciones principales
02
Baterías y energía
Electrodos, interfaces, Fotovoltaica y materiales funcionales.
03
Metalurgia
Descarbonetación, nitretación, cienentación, oxidación y control de ligas.
Características destacadas
Recursos y configuraciones
01
Elementos ligeros
Detección de H, O, C, N y Cl en condiciones apropiadas.
02
HDD
Detectores de alta rango dinámico para señal superficial y volumen.
03
QUANTUM
Software para adquisición, cuantificación y perfil de profundidad.
Datos de referencia
Visión técnica
Este resumen permite una evaluación preliminar; la configuración final debe considerar la matriz, el método, el intervalo analítico y la productividad.
TécnicaGD-OES pulsado RF
Cobertura110 a 800 nm
AnálisisVolumen, superficie y perfil de profundidad
ProfundidadeNanómetros a cientos de micrómetros, conforme muestra
Medición de profundidadInterferómetro diferencial DIP
Preguntas frecuentes
Información técnica
¿GD-OES mide el espesor de capas?
Sí. El perfil puede relacionar composición y profundidad, siempre que el método y la tasa de erosión sean adecuadamente establecidos.
¿Es necesario disolver la muestra?
No. El análisis es directo en la superficie sólida compatible con la cámara de descarga.
¿El método es destructivo?
Es microdestructivo: la descarga forma un cráter en el área analizada.
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Evaluación de aplicación
Informe la matriz, los analitos o moléculas de interés, el intervalo esperado y el volumen de muestras. SENS especifica la configuración aplicable.