De la matriz al ultratrazo
El sistema cubre más de 12 órdenes de magnitud en una sola plataforma, con conmutación automática entre modos de detección.
Thermo Scientific · GD-MS de alta resolución
ELEMENT GD Plus: trazos y ultratrazos directamente en el sólido
Análisis multielemental directo de materiales sólidos de alta pureza, con alta resolución de masa, amplia rango dinámico y productividad para rutina e investigación.
THERMO SCIENTIFIC
Diferenciales analíticos
Sensibilidad y selectividad sin disolver el sólido
La plataforma fue diseñada para materiales avanzados y de alta pureza que exigen límites de detección muy bajos, gran rango dinámico y resultados multielementales.
Alta resolución de masa
Tres resoluciones fijas permiten separar interferencias espectrales y confirmar resultados en matrices complejas.
Análisis directo del sólido
Reduce etapas de disolución, dilución e infraestructura de laboratorio húmedo para muestras compatibles.
Límites de detección sub-ppb
El catálogo coloca límites robustos en el rango sub-ppb para aplicaciones adecuadas y materiales de alta pureza.
Alta productividad
Fuente fast-flow, intercambio rápido de muestras y tiempos cortos de bombeo permiten hasta cinco muestras por hora.
Análisis global y perfiles de profundidad
La misma arquitectura atiende composición del material e investigación elemental en profundidad.
R 10.000Mayor resolución fija
13 órdenesRango dinámico lineal
hasta 5/hProductividad indicada
Del sólido al resultado
Análisis directo para materiales de alta pureza
El flujo reduce la preparación química y conecta fuente, separación de alta resolución y detección automática en un análisis multielemental.
01
Preparar la geometría de la muestra
Muestras planas, pinos o polvos prensados se acomodan con la célula y el soporte adecuados.
02
Pre-sputtering
El modo de alta potencia elimina la superficie inicial y estabiliza la región analizada.
03
Separar los iones
Sector magnético y analizador electrostático trabajan en los modos R 300, 4.000 o 10.000.
04
Cuantificar
La detección automática cobre matriz, menores, trazos y ultratrazos; el método puede usar RSFs estándar o calibración.
Aplicaciones
Pureza y impurezas críticas en materiales tecnológicos
ELEMENT GD Plus se dirige a sólidos en los que pequeñas concentraciones afectan el rendimiento, la seguridad, la fabricación o la certificación.
Aeroespacial
Superligas de níquel, elementos menores y trazo, recubrimientos y capas de difusión.
Semiconductores
Wafers y polvo de carburo de silicio, silicio y materiales relacionados con la fabricación electrónica.
Microelectrónica
Cobre, alúmina en polvo, blancos de sputtering y materiales de alta pureza.
Energía renovable
Bloques de silicio, wafers, células solares y control de impurezas en materias primas.
Sector nuclear
Pureza de grafito y perfiles de profundidad para triaje y caracterización de sólidos.
Metales de bajo punto de fusión
Flujos dedicados a metales como indio y galio, incluyendo enfriamiento Peltier opcional.
Metales de alta pureza
Determinación de contaminantes en metales, aleaciones y materias primas de pureza elevada.
Materiales avanzados
Investigación, desarrollo, calificación e investigación de fallas en sólidos tecnológicos.
Arquitectura y desempeño
Fuente Grimm, doble sector y tres detectores
La combinación prioriza transmisión iónica, estabilidad, separación de interferencias y una rango dinámico amplia en rutina.
Consultar catálogo completoFuente de ionesFuente tipo Grimm con fast-flow, modo pulsado, alta tasa de sputtering y cráter uniforme.
Resolución de masaModos fijos R = 300, 4.000 y 10.000; cambio de resolución en menos de 1 s.
AnalisadoresSector magnético y analizador electrostático con óptica de transferencia de iones.
DetecciónMultiplicador de electrones secundarios en conteo y modo analógico, más detector Faraday.
Rango dinámico13 órdenes lineales, de menos de 0,2 cps a más de 1012 cps.
ProductividadHasta 5 muestras/h; intercambio de muestra en menos de 1 min y turnaround de bombeo por debajo de 10 min.
Formatos de muestraMuestras planas, polvos prensados y pinos con soportes y células apropiados.
OpcionesRefrigeración Peltier para galio y opción CNO para límites sub-ppm de carbono, nitrógeno y oxígeno.
Datos resumidos del catálogo oficial Thermo Scientific. Límites de detección, precisión y productividad varían con elemento, matriz, geometría, método y configuración.
Marco de la solución
Antes de definir la configuración
La matriz, la geometría, la concentración esperada y el tipo de información deseada determinan el método y los accesorios necesarios.
Indicaciones técnicas
✓El sólido de alta pureza necesita ser analizado directamente.
✓Elementos traza y ultratrazo son críticos para la calidad.
✓Interferencias exigen alta resolución de masa.
✓La aplicación pide análisis global y/o perfil elemental en profundidad.
La configuración debe considerar...
→Conductividad, forma, dimensiones y disponibilidad de material.
→Elementos objetivo, pureza esperada y límites de detección necesarios.
→Uso de muestra plana, pino, polvo prensado o electrodo secundario.
→Necesidad de las opciones CNO, enfriamiento Peltier o perfiles de profundidad avanzado.
Material técnico
Catálogo de ELEMENT GD Plus
Archivo oficial incorporado en esta página. La descarga funciona sin abrir servidores externos.
ELEMENT GD Plus · Glow Discharge Mass Spectrometer
Catálogo técnico oficial Thermo Scientific con fuente, analizadores, detectores, productividad, rendimiento y aplicaciones.
Preguntas frecuentes
Lo esencial sobre ELEMENT GD Plus
Información para la evaluación inicial de aplicación.
¿El ELEMENT GD Plus exige disolución de la muestra?
No para sólidos compatibles. El análisis es directo, reduciendo etapas de disolución, dilución y el riesgo de contaminación asociado a la preparación húmedo.
¿Qué resoluciones de masa están disponibles?
El sistema opera en tres modos fijos: R = 300, 4.000 y 10.000, con cambio de resolución en menos de un segundo.
¿Se pueden analizar materiales no conductores?
Muchos materiales no conductores pueden ser analizados por técnicas de electrodo secundario. La viabilidad depende de la muestra, de la geometría y del método.
¿Qué formatos de muestra se aceptan?
La célula puede trabajar con muestras planas y, con soportes apropiados, polvos prensados y pinos. La evaluación dimensional debe realizarse antes de la configuración.
¿El análisis es destructivo?
Sí. El sputtering forma un cráter situado en la región expuesta a la descarga.
¿Cómo se cuantifican C, N y O en niveles bajos?
La opción CNO limpia el gas de descarga de entrada y fue desarrollada para alcanzar límites sub-ppm para carbono, nitrógeno y oxígeno en aplicaciones adecuadas.
Defina la ruta analítica para pureza, trazas y ultratrazas en sólidos.
Envíe a SENS la matriz, el formato de la muestra, los elementos críticos y los límites de detección deseados.